超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
超聲波測厚儀是采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進(jìn)行測量。可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行厚度測量，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對各種板材和各種加工零件作精確測量。
本測厚儀采用脈沖反射超聲波測量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零件作精確測量。可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
超聲波測厚儀可采用兩種探頭進(jìn)行測量，一種是雙晶探頭，另一種是單晶探頭，用來測量超薄材料。兩種探頭的工作原理各有不同。
1.雙晶探頭又被稱為雙晶換能器由兩個(gè)獨(dú)立的晶片組成，由隔音材料隔開。
這兩個(gè)晶片是成角度的，因此當(dāng)一個(gè)晶片發(fā)出超聲波脈沖時(shí)，脈沖路徑會(huì)產(chǎn)生一個(gè)“V”形，通過超聲波耦合劑進(jìn)入材料，在另一個(gè)晶片被檢測到。然后儀器利用脈沖的速度以及從一個(gè)晶片傳播到另一個(gè)晶片（從發(fā)出到接收脈沖）所花費(fèi)的時(shí)間以計(jì)算材料的厚度。在脈沖完成其路徑之前，隔音材料阻止任何聲音直接從發(fā)射器到達(dá)接收器。市面上的雙晶探頭大多數(shù)測量的最小厚度為0.8mm。林上科技的超聲波測厚儀可以測量0.8mm-600mm厚度的材料，使用的是雙晶探頭。
2.單晶探頭測量薄至0.15mm的均勻材料。顧名思義，單晶探頭是由一個(gè)晶片組成，它既可以發(fā)射也可以接收超聲波脈沖。脈沖再次通過超聲耦合劑在晶片和材料之間傳播。
然而，測量薄材料意味著超聲波信號(hào)將以極快的速度返回到晶片被接收，因此在脈沖離開晶片和接收之間并不總是有足夠的時(shí)間。一般使用單晶探頭時(shí)，市面上大部分廠家會(huì)使用延遲線（又叫做延遲塊），以加長脈沖發(fā)送和接收之間的時(shí)間，確保測量更準(zhǔn)確的結(jié)果。
使用延遲線的單晶探頭，理論上來講會(huì)計(jì)算延遲線的長度，但是廠家們?yōu)榱吮苊鉁y量延遲線的長度，并且使超聲波測厚儀能僅測量材料的厚度，廠家設(shè)置儀器不會(huì)只計(jì)算脈沖發(fā)出到接收的時(shí)間。相反，當(dāng)脈沖在延遲線和材料之間通過時(shí)，儀器開始脈沖第一次被接收的時(shí)間，當(dāng)脈沖撞擊材料的后壁并返回到元件時(shí)，再次計(jì)算脈沖被接收的時(shí)間。兩次測量的時(shí)間差以及已知的脈沖速度允許儀器移除延遲線長度的影響，并僅測量材料的厚度。
更新時(shí)間：2023-12-19
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